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| ■き裂成長モニタ |
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| CGM-7 |
DCM-2 |
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【特徴】
電位差法とは
金属の「き裂」成長過程を電気抵抗値の変化を利用してモニタリングする測定器です。
交流（ACPD)および直流（DCPD)の２方式があります。
超音波やX線を利用した測定器に比べ、設置しやすく操作も簡単です。
測定チャンネルは２系統あり、き裂測定と同時にリファレンス測定が可能です。
スキャンユニットを追加すれば複数試験片の同時測定にも対応出来ます。
オプションの専用ソフトでパソコンと連携してデータの確認や保存が可能です。
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| 【用途例】 |
| 原子力、火力、化学プラントをはじめ航空機、橋梁等の構造材のき裂の成長をモニター |
◆安定き裂成長過程の研究
◆き裂の寸法評価
◆動的き裂発生と成長の研究
◆試験片への予き裂導入時のモニタリング
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◆疲労による割れ成長に関する研究
◆応力腐蝕割れの研究
◆材料劣化の研究
◆き裂発生時のモニタリング |
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